逆光電子回折現象を利用したバルク敏感性可変原子構造解析法の確立と応用

2016 年度 研究成果報告書

• 研究課題/領域番号: 25287075
• 研究種目: 基盤研究(B)
• 配分区分: 一部基金
• 応募区分: 一般
• 研究分野: 物性Ⅰ
• 研究機関: 奈良先端科学技術大学院大学
• 研究代表者: 松井 文彦 奈良先端科学技術大学院大学, 物質創成科学研究科, 准教授 (60324977)
• 研究期間 (年度): 2013-04-01 – 2017-03-31
• キーワード: 光電子回折 / Auger電子回折 / 原子構造 / 放射光・軟X線 / 表面・界面 / 非弾性散乱過程

研究成果の概要

エネルギー損失電子の角度分布に、励起源の偏光や種類（光・電子）に関わらず、光電子回折模様とは真逆のネガコントラスト模様が出現する逆光電子回折という現象を発見した。種々の結晶試料にて光電子回折と非弾性散乱電子回折模様を測定し、逆光電子回折効果と脱出深度の関係を系統的に調べ、この現象の機構を解明した他、バックグラウンド除去法を確立し、希薄なドーパント原子周りの局所原子構造について調べられるようになった。またこうした回折模様を効率よく測定する新規小型表示型分析器を考案し、特許出願を行った。

自由記述の分野

表面物性物理学