|
ディラック電子系における基盤電子構造と特異物性発現機構との関連を明らかにするために、スピン分解ARPES装置の建設・改良を行い、ディラック電子系、とりわけグラフェン関連物質、鉄系超伝導体、トポロジカル絶縁体・半金属の電子状態を、高分解能ARPESによって精密に決定した。その結果、グラフェンのバンドギャップ制御、鉄系超伝導体母物質ネマティック相におけるディラックコーンの観測、強磁性体-ラシュバ金属界面におけるディラック電子の質量制御、新奇トポロジカル半金属の同定などに成功した。これらの結果から、観測されたディラックコーン電子状態、結晶対称性、および特異物性発現機構との密接な関連を明らかにした。
|
