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ソフトナノコロイドの限外濾過で形成される濾過ケークの平均比抵抗と平均空隙率を同時にかつ正確に決定する画期的な手法を開発した。本手法では、圧力増大によりケークが圧縮され厚さが減少するという特性を利用して、濾過の途中で有効濾過面積が減少する濾過面積急縮小型濾過器を用いて濾過圧力をステップ状に上昇させて試験を行う。一度の濾過試験で得られる濾過速度の経時変化のデータのみから、高圧縮性ケークの平均濾過比抵抗と平均空隙率の圧力依存性を評価することができた。本手法は、様々なソフトナノコロイドに適用でき、ケークの圧縮特性に基づき分離操作の設計が可能である。
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