• 研究課題をさがす
  • 研究者をさがす
  • KAKENの使い方
  1. 課題ページに戻る

2015 年度 実績報告書

3次元LSIにおけるビア接続不良に対するテストと診断に関する研究

研究課題

研究課題/領域番号 25330062
研究機関愛媛大学

研究代表者

樋上 喜信  愛媛大学, 理工学研究科, 准教授 (40304654)

研究分担者 高橋 寛  愛媛大学, 理工学研究科, 教授 (80226878)
研究期間 (年度) 2013-04-01 – 2016-03-31
キーワード3次元LSI / 故障診断 / 遅延故障
研究実績の概要

平成27年度に実施した研究の成果は,主に次の2点である.(1)ハザードを考慮したゲート信号線の遅延故障の診断法を開発した.(2)ハザードを考慮したクロック信号線の遅延故障の診断法を開発した.
我々が平成26年に発表した遅延故障の診断においては,信号線の論理値と信号の最終変化時刻を計算することによって,遅延故障のシミュレーションを行っていた.そのようなシミュレーションでは,一時的に信号が変化するハザードを正確に表現することができず,実際の回路でハザードが発生する場合には,シミュレーションと異なる結果となる場合がある.そこで,シミュレーションで用いる論理値を拡張し,ハザードも表現できるようにした.ただし,正確な信号波形計算を行った場合には,計算時間が長大になるため,実用的な計算時間でシミュレーションが行えるような工夫を取り入れた.開発した手法を用いてベンチマーク回路に対して実験を行った結果,(1)の研究では,単一故障に対しては1~20個の候補故障に,2重故障に対しては,11~41個の候補故障に絞り込むことができた.(2)の研究では,単一ゲート遅延故障とクロック遅延故障に対して,8~105個の候補故障に絞り込むことができた.
研究期間全体を通じた研究の成果は主に次の2点である.(1)クロック信号線の遅延を考慮したゲート遅延故障に対する故障診断法を開発した.(2)ハザードを考慮した様々な遅延量を持つ遅延故障に対する故障診断法を開発した.
(1)の研究においては,組合せ回路部分のゲート遅延とクロック線の遅延が同時に存在する場合を考慮した故障診断法を開発した.また,(2)の研究においては,(1)の手法を拡張し,信号値が一時的に変化するようなハザードの影響を考慮した,遅延故障の故障診断法を開発した.

  • 研究成果

    (5件)

すべて 2016 2015 その他

すべて 国際共同研究 (1件) 雑誌論文 (1件) (うち国際共著 1件、 査読あり 1件、 謝辞記載あり 1件) 学会発表 (2件) (うち国際学会 2件) 図書 (1件)

  • [国際共同研究] ウィスコンシン大学(米国)

    • 国名
      米国
    • 外国機関名
      ウィスコンシン大学
  • [雑誌論文] Diagnosis Methods for Gate Delay Faults with Various Amounts of Delays2016

    • 著者名/発表者名
      Y. Higami, S. Wang, H. Takahashi, S. Kobayashi and K. K. Saluja
    • 雑誌名

      IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology

      巻: 9 ページ: 13-20

    • DOI

      10.2197/ipsjtsldm.9.1

    • 査読あり / 国際共著 / 謝辞記載あり
  • [学会発表] Diagnosis of Delay Faults Considering Hazards2015

    • 著者名/発表者名
      Y. Higami, S. Wang, H. Takahashi, S. Kobayashi and K. K. Saluja
    • 学会等名
      IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI
    • 発表場所
      フランス モンペリエ
    • 年月日
      2015-07-08 – 2015-07-10
    • 国際学会
  • [学会発表] Diagnosis for Delay Faults in the Presence of Clock Delays Considering Hazards2015

    • 著者名/発表者名
      Y. Higami, S. Wang, H. Takahashi, S. Kobayashi and K. K. Saluja
    • 学会等名
      International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications
    • 発表場所
      韓国ソウル
    • 年月日
      2015-06-30 – 2015-07-02
    • 国際学会
  • [図書] Three-Dimensional Integration of Semiconductors2015

    • 著者名/発表者名
      Kazuo Kondo, Morihiro Kada, Kenji Takahashi (Editors)
    • 総ページ数
      401
    • 出版者
      Springer

URL: 

公開日: 2017-01-06   更新日: 2022-02-03  

サービス概要 検索マニュアル よくある質問 お知らせ 利用規程 科研費による研究の帰属

Powered by NII kakenhi