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これまでの縮退故障および遷移故障に対する故障検査のみでは，高速システムオンチップの品質を保証することは困難である。本研究では，抵抗性オープン故障に対する高精度診断用テストとして，2パターン―2ペアテストの概念を提案し，その生成法を提案した。また，診断容易化回路として，アナログバンダリスキャンを適用したオンチップセンサを提案した。さらに，被診断回路のパスの順位に基づく故障診断法を提案した。ベンチマーク回路に対する評価実験結果から，従来法に比べて，高精度な診断用テストが生成可能であること，および良好な故障診断分解能が得られることを示した。
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