研究課題
基盤研究(C)
本研究課題では，LSIの使用中に使用環境に起因したLSIの誤動作への対策方法と劣化による性能低下の推定方法を開発した．（１） 電源ノイズによるフリップフロップへの動作を解析し，メモリと同様にビット反転の誤動作が発生することを確認した．またその発生メカニズムを明らかにし，誤動作を防止する回路構成法を開発した．（２） 2種類のリング発振器を使用したLSIの劣化推定方法を開発した．本方法では，トランジスタレベルから回路レベルまでの劣化の推定が可能になった．
ディペンダブルコンピューティング
