研究課題
基盤研究(C)
従来のＸ線ＣＴにおいて、散乱線は断層像再構成に害を及ぼすため除去する事が通常行われてきた。しかし、エネルギー（スペクトル）情報とともに散乱線も被照射物体の形状・組成に関わる情報を持っている。計算機内におけるモデルの投影データと、実際の投影データが合致する事を目標にする事を原理とした再構成法において、側方・後方散乱も測定すれば再構成精度の向上を期待できる。本研究は問題を簡略化することで、この事に対して理論的な強い結果を得た。これを基礎にすれば、被曝の少ない装置を構成できる可能性がある。
医用生体計測
