|
絶縁体表面にも適用可能な非接触原子間力顕微鏡と放射光X線を組み合わせたナノスケール元素分析・化学状態分析法、X線支援非接触原子間力顕微鏡（X-ray Aided Noncontact Atomic force microscopy, XANAM）の開発を行った。これは探針-試料間の相互作用を試料原子の内殻電子励起が可能なX線で人為的に変化させることで、探針直下の元素種の同定や化学状態識別を可能とする手法である。本課題により相互作用測定の精密化と解析方法を確立した。また元素選別イメージング像の取得の足がかりとなるデータ取得に成功した。
|
