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原子空間分解能とマニピュレーション能力の両者をあわせ持つ走査トンネル顕微鏡(STM)を用いて、粒径数 nmの銀ナノ微粒子近傍に発生するプラズモン光電場をナノスケールで明らかにする研究を行った。電界蒸発により、Si(111)基板上の任意の位置に個々の銀ナノ微粒子を高い位置精度で配置することに成功した。単一の銀ナノ微粒子の光物性をSTM発光分光により明らかにする研究を行い、微粒子サイズおよび形状に依存した銀ナノ微粒子の光物性を明らかにすることができた。さらに、STMナノギャップにおけるナノマテリアルの発光計測をおこない、基板の微細構造に起因した発光物性を高い空間分解能で明らかにすることができた。
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