| 研究課題/領域番号 |
25410143
|
|---|
| 研究機関 | 成蹊大学 |
|---|
研究代表者 |
青柳 里果 成蹊大学, 理工学部, 准教授 (20339683)
|
|---|
| 研究期間 (年度) |
2013-04-01 – 2017-03-31
|
| キーワード | 質量イメージング / 表面科学 / ToF-SIMS / 多変量解析 |
|---|
| 研究実績の概要 |
昨年度測定したモデル試料のToF-SIMSデータ解析をさらに進め、また近接場赤外顕微鏡（NFIR）によるデータもさらに得た。これらのデータ解析結果から、一般化できるデータ解析プロトコールの開発を目指した。試料の各位置における濃度情報を含むTOF-SIMSとNFIRデータを多変量解析(PCA, MCRなど)で分析すると、抽出された成分 に対応するイメージ像が得られる。イメージ像からその成分が表す物質群や器官が明らかになる場合は、その成分のスペクトル情報から解析対象である分子の同定が可能となるので、生体組織に特有な分子の同定を目指し、実際の解析でTOF-SIMSおよびNFIRのデータで、多変量解析結果から試料の特徴を適切に引き出すことに成功した。
よりソフトなイオン化が可能な分子クラスターによるイオン化（Dürr教授、ギーセン大学、ドイツ）に関して、ペプチド試料の測定結果の解析を進め、昨年度測定した薄膜試料との結果を比較するため、厚膜試料の測定を実施した。これらの結果について2017年度に学会発表を予定している。
|
| 現在までの達成度 (区分) |
現在までの達成度 (区分)
2: おおむね順調に進展している
理由
ToF-SIMSおよびNFIRによる試料測定と多変量解析を用いたデータ解析が進んでおり、一部の結果は学会発表し、学術論文にも掲載された。予測していた解析の効果がほぼ得られている。
|
| 今後の研究の推進方策 |
計画に従って、これまでに得られたデータの解析を進め、取りまとめる。一部の成果については、学会発表および論文投稿も予定している。高分子試料のNFIRデータとToF-SIMSデータの多変量解析結果の比較から、試料、測定手法、解析目的の違いを考慮して、より一般化された解析プロトコールを確立する。
また、昨年度に引き続き、ギーセン大学（ドイツ）のDürr教授と協力して、分子クラスタービームによるより非破壊的なイオン検出法を用いて得た結果から、ToF-SIMS測定によって発生するフラグメント化を明らかにする。
|
| 次年度使用額が生じた理由 |
2014年４月に研究代表者の所属機関が島根大学から成蹊大学理工学部に移動し、2014年度には装置の移動とメンテナンスに時間がかかり、一部メンテナンスは2015年度まで続いたため、おもに試料測定とデータ解析に関わる研究計画の一部が後ろ倒しとなった。したがって、一部の研究費の次年度への繰り越しが生じている。
|
| 次年度使用額の使用計画 |
試料測定、データ解析の実施におもに利用する。
|
