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ライトフィールド顕微鏡のリフォーカス機能により高速に得られたイメージスタックに対してFocus Variationを適用し，深度マップを得た．光学顕微鏡とShape from Silhouetteにより得た形状モデルに対して深度マップを適用し，試料表面情報を含む三次元形状モデルの再構築を行った．さらに，表面プロファイルの高精度測定や奥行きが深い構造の測定に対応するために試料走査型OCT顕微鏡を提案した．低コヒーレンス干渉信号を光学顕微鏡の被写界深度内に固定した上で，測定対象を走査することで三次元形状を得る方法である．実験による検証の結果，光学顕微鏡の被写界深度の数十倍の深さ測定範囲が得られた．
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