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2015 年度 研究成果報告書

イオン衝撃二次電子銃による大面積電子ビームの発生と滅菌への応用

研究課題

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研究課題/領域番号 25420245
研究種目

基盤研究(C)

配分区分基金
応募区分一般
研究分野 電力工学・電力変換・電気機器
研究機関東京工業大学

研究代表者

渡邊 正人  東京工業大学, 総合理工学研究科(研究院), 助教 (20251663)

研究分担者 堀田 栄喜  東京工業大学, 大学院総合理工学研究科, 教授 (70114890)
研究期間 (年度) 2013-04-01 – 2016-03-31
キーワード電子ビーム / イオン衝撃 / 滅菌 / プラズマ
研究成果の概要

本研究では,パルス電子ビームによる滅菌技術の確立を目指した。まず,イオン衝撃二次電子銃を構築し,発生する電子ビームの各種特性を調べた。特に,照射に伴う吸収線量の絶対値を計測できるシステムを構築した。次に,滅菌実験により,電子ビームの照射周波数を増加させると殺菌効果は向上し,処理時間を大幅に短縮できることを明らかにした。また,電子ビーム照射により生成されるラジカルが,殺菌効果の向上に寄与していることを明らかにした。さらに,細菌表面の観察により,電子ビーム照射による芽胞のコアの損傷が,菌の死滅の原因であることがわかった。以上の結果より,電子ビーム照射が滅菌の有効な手法であることを示した。

自由記述の分野

プラズマ工学

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公開日: 2017-05-10  

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