研究課題
基盤研究(C)
プラズマCVD法により作製したダイヤモンドライクカーボン(DLC)膜を放射光による微小角入射X線散乱(GIXS)測定に供した。得られた散乱スペクトルから動径分布関数を算出したところ、成膜時の投入電力の増大により、膜中のsp2炭素に起因する中距離秩序性の増大が認められた。本結果は可視光ラマン散乱やナノインデンテーションの結果とも良い相関性を示した。また、重水素化したDLCを中性子散乱に供することで、RDFを導出した結果、グラファイト骨格中にC-D結合の存在が確認された。
薄膜工学、非晶質材料、表面処理