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拡散テンソル画像は白質の異常を捉えることができる画像解析法として側頭葉てんかん（TLE）の病態解析に広く応用されている。側頭葉てんかん（TLE）の大脳白質線維の変化を健常群との比較で明らかにし、この変化と罹病期間との関係を検討した。
TLE群は健常群に比べて両半球での辺縁系領域、側頭葉領域とそれに接続する白質領域だけでなく、遠隔の白質領域においてFA値の低下、MD値の上昇、RD値の上昇が認められた。罹病期間と全脳の平均FA値は有意な負の相関、全脳の平均MD値、RD値にはそれぞれ有意な正の相関を示した。罹病期間と拡散テンソル指標との相関がある脳
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