| 研究課題/領域番号 |
25463045
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
補綴・理工系歯学
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| 研究機関 | 明倫短期大学 |
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研究代表者 |
野村 章子 明倫短期大学, 歯科技工士学科, 教授 (80134948)
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| 研究分担者 |
金谷 貢 新潟大学, 医歯学系, 助教 (40177499)
野村 修一 新潟大学, 医歯学系, 教授 (40018859)
伊藤 圭一 明倫短期大学, 歯科技工士学科, 講師 (60389955)
佐野 裕子 明倫短期大学, 歯科技工士学科, 教授 (30300099)
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| 研究協力者 |
伊藤 恭輔 新潟大学, 医歯学系
原口 大 浜松ホトニクス株式会社
内山 圭吾 浜松ホトニクス株式会社
木村 純 浜松ホトニクス株式会社
石川 昌義 浜松ホトニクス株式会社
石川 俊一 東伸洋行株式会社
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| 研究期間 (年度) |
2013-04-01 – 2016-03-31
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| キーワード | 低エネルギー電子線滅菌 / 低温ガスプラズマ滅菌 / オートクレーブ滅菌 / 純チタン |
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| 研究成果の概要 |
低エネルギー電子線は，照射された材料の発熱が小さく，材料の損傷を抑制できるなどの特徴を有する．本研究では，一回のLEB照射滅菌が純チタン表面におよぼす影響について，オートクレーブ滅菌および低温ガスプラズマ滅菌と比較検討した．反射電子像観察の結果，LEB照射滅菌と低温ガスプラズマ滅菌した試料では表面形態に変化は見られなかったのに対し，オートクレーブ滅菌した試料では表面あれが観察された．元素マッピングからは，いずれの滅菌処理においても試料表面における各元素濃度の変化は見られなかった．以上から，一回のLEB照射による滅菌操作は，純チタンに表面あれを引き起こさず，オートクレーブと対照的であった．
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| 自由記述の分野 |
歯科補綴学
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