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本研究課題では、カンチレバーを局所的に加熱できるレーザ照射系または通電加熱可能なカンチレバーを備えた原子間力顕微鏡（AFM）をベースに、局所熱電性能を評価できる走査ゼーベック顕微鏡（SSM）法を開発し、有機薄膜材料を対象に温度変化による電位変化とナノスケールの組成・構造との対応を評価した。青紫色レーザを探針直上に集光し、探針部の温度のみを選択的に上昇させられることを確認し、またカンチレバーに通電加熱することでさらに効率よく探針直下を加熱できることも確認した。これらの探針加熱方法を用いて、有機薄膜の局所電位評価を行い、局所的な熱電性能を評価できることを確認した。
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