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イオンコンダクタンス顕微鏡（SICM）は、細胞膜の形状を精密に計測できる強力な装置である。本研究では、SICMを用いて細胞膜表面揺らぎの定量計測法を開発した。マイクロパターン基板技術により細胞骨格構造を制御した接着細胞を用いて細胞膜揺らぎ量と細胞骨格構造との関係を調べた。これは、金薄膜基板のガラス表面上に細胞をパターニングすることで実現した。実験の結果、細胞パターニングと細胞膜揺らぎの空間特性との間には顕著な相関が見られないことが分かった。また、イオン電流曲線のリアルタイムサンプリングを実現し、走査速度とイオン電流曲線との関係を実験的に明らかにした。
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