本研究の目的は,100mVという超低電圧で動作する半導体デバイスを実現するための挑戦的基礎研究を行うことである.超低電圧で高いオン・オフ比を得るために,トランジスタのオン時にしきい値電圧(Vth)が自動的に下がり,オフ時にVthが自動的に上がる機構に注目し,このような機構を有する浮遊ゲート構造MOSトランジスタを提案した.実際に本構造のトランジスタを試作し,オン時のVth上昇とオフ時のVth低下を観測し,しかもこの現象が100mVという超低電圧でも起こることを確認した.さらに,SRAMの安定性が100mVという低電圧でも向上することを実験的に確認した.
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