本研究では、自己組織化単分子膜(Self-assembled monolayer: SAM)を利用して固体表面上に生体内に近い状態のDNA試料を作製し、放射光軟X線を用いた照射を行い照射影響を明らかにすることを目的とした。 DNA-SAM二重膜の試料を作製し、膜厚とDNAとSAMの界面の化学結合状態を明らかにした。また作製した試料に対して放射光軟X線を用いた照射を行い、照射前後の吸収端近傍X線吸収微細構造(Near-edge X-ray fine structure: NEXAFS)スペクトルの比較から照射影響による電子構造の変化が確認された。
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