研究課題
本研究では、シンクロトロン放射光励起による軟Ｘ線発光・吸収分光法を用いて薄膜型CIS化合物系太陽電池における光吸収層CIS（銅（Cu）、インジウム（In）、セレン（Se））の非破壊的電子状態分析技術を確立することを目的としている。本課題達成のために、従来のＸ線分光器では困難であった幅広いエネルギー帯域（1～3.5 keV）に現れるCIS化合物及び界面からの発光スペクトル（Cu-L（0.9 keV）、In-L（3.4 keV）、Se-L（1.4 keV）等）とその微細構造を高分解能・同時計測することができる新しい多層膜を応用したラミナー型（矩形状）不等間隔溝多層膜回折格子分光器を開発した。今年度は、（1）広帯域Ni/C多層膜回折格子の製作、（2）広帯域Ni/C多層膜トロイダル前置鏡の製作、（3）放射光による多層膜光学素子の性能評価、（4）軟Ｘ線分光器による発光分光実験を実施した。残念ながら（4）については、装置の調整不足から未だCIS化合物からの発光スペクトルを計測するまでに至っていないが、（3）の放射光を用いた評価実験により、本研究で考案した広帯域Ni/C多層膜が機能していることを明らかにできた。従って、本課題はほぼ達成できたと考える。今後、装置の調整を行い、1～3.5 keV領域に現れるCu、In、SeのL発光の同時計測が可能であることを明らかにしたい。
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