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XFELを用いた時間分解X線吸収分光法のために、波長分散型と蛍光収量型の2種類の手法を開発した。短寿命の光反応中間体を捉えられるか確かめるため、同期レーザーと組み合わせて鉄シュウ酸アンモニウム水溶液の分散溶液について時間分解計測を行った。結合の解離や電子構造の変化をサブピコ秒で観測することに成功した。
加えて、ジッターによって制限されている時間分解能の改善に取り組んだ。高強度X線が半導体試料に照射されると電子温度の上昇と光学透過率の低下が起こる。これを空間デコーディングと組み合わせることによりジッター計測を行った。約10フェムト秒の正確さを得ることに成功し劇的に時間分解能を改善した。
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