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永久磁石材料やスピントロニクス材料をはじめとする機能磁性材料を対象にナノスケールの磁気解析手法を確立することは極めて重要な課題となっている。そこで本研究課題では元素選択的かつ局所的に磁気状態を調べることが可能な軟X線走査型顕微鏡を開発した。フレネルゾーンプレート集光システムによって約100 nmの集光ビームが得られ、高い空間分解能で吸収イメージング測定および磁気円二色性イメージング測定が可能となった。画像取得の高速化に取りくみ、測定時間の低減を図った。また、外場環境試験を経て、高い空間分解能で永久磁石材料破断面の磁区観察に成功した。
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