| 研究概要 |
本研究は、白色X 線を用いる全反射蛍光X 線分析法の検出感度を改善することを目的としており、本年度は、微弱白色X線を用いる小型全反射蛍光X線分析装置を利用して研究を行い以下のような成果をあげた。
1. われわれは、微弱白色X線を使用する小型全反射蛍光X線分析装置を用い低真空条件で測定を行うことで、X線管から発生する特性X線と連続X線の空気による散乱が弱まるためスペクトルのバックグラウンドやX線管のターゲット由来のW L線強度が顕著に低減すること、およびクロムで8 pgの検出下限が得られたことを以前に報告した(S. Kunimura, S. Kudo, H. Nagai, Y. Nakajima, H. Ohmori, Rev. Sci. Instrum. 84, 046108 (2013))。タングステンターゲットX線管を用いる本装置を使用して空気中で測定を行う場合、X線管のターゲット由来のW L線と重なり合う蛍光X線を発生させる元素の微量分析を行うことが困難であった。本年度は、低真空下で測定を行うことで、このような元素の検出感度を改善した。
2. 白色X線を用いる全反射蛍光X線分析では、試料台上の試料の量が多くなると入射X線の試料自体による散乱が強くなるためスペクトルのバックグラウンドが高くなる。本年度は、試料前処理として固相抽出を行い目的成分を分離濃縮することにより、これまで微量元素分析を行うことが難しかった試料に含まれるppbレベルの金属元素が分析可能になることを明らかにした。また、試料前処理として溶媒抽出も検討し、その有効性を確認した。
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