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本研究は、コネクタの緩みにより接触境界面おいて増大する高周波寄生素子成分を測定装置と親和性の高い同軸コネクタを用いて推定し、等価回路網を与え、得られた等価回路網に基づき、汎用的なコネクタにも適用可能な緩みモデルを構築し、コネクタに緩みが発生した場合に生ずる電磁環境劣化を予測可能とすると共に、情報セキュリティの観点から、コネクタに緩みの生じた情報システムからの情報漏えいリスク評価を行った。さらに、これらの知見を基に、1GHz超の周波数帯におけるコネクタの緩みによる電磁環境劣化メカニズムの解明とコネクタに求められる接触性能要件を与えた。
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