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2014 年度 研究成果報告書

Investigation of gated adsorption with time-resolved imaging using XFEL (X-ray Free Electron Laser)

研究課題

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研究課題/領域番号 25870360
研究種目

若手研究(B)

配分区分基金
研究分野 機能物性化学
無機化学
研究機関東京大学 (2014)
京都大学 (2013)

研究代表者

FOO MawLin  東京大学, 理学(系)研究科(研究院), 助教 (20646765)

研究期間 (年度) 2013-04-01 – 2015-03-31
キーワードX線自由電子レーザー / 配位高分子 / 結晶
研究成果の概要

研究の目的は、SPring-8の時にさくらX線自由電子レーザー(XFEL)を使用して解決回折を観察することです。 XFELは、時間分解回折が可能な超短パルスX線レーザーです。私たちは、多孔性配位高分子(のPCP)にゲート開口挙動の時間発展を研究するXFELを利用したかったです。のPCPは、ガス吸着することができる結晶性固体、構造変形に伴う分離のユニークなクラスです。ガス投与装置と1レーザーパルスX線回折を利用することによりに沿って、私たちは、COガスに銅カゴメPCPの呼吸動作を可視化するために管理しています。我々の研究結果は、ガス分離および保存の領域に影響を与えます。

自由記述の分野

化学

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公開日: 2016-06-03   更新日: 2021-04-07  

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