ソレノイド磁場がもたらす超低背景事象環境で実現する中性子寿命問題の解決

2025 年度 審査結果の所見

• 研究課題/領域番号: 25H00634
• 研究種目: 基盤研究(A)
• 配分区分: 補助金
• 応募区分: 一般
• 審査区分: 中区分15:素粒子、原子核、宇宙物理学およびその関連分野
• 研究機関: 名古屋大学
• 研究代表者: 三島 賢二 名古屋大学, 素粒子宇宙起源研究所, 特任准教授 (20392136)
• 研究分担者: 角 直幸 大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構, 超伝導低温工学センター, 助教 (00881690) ; 細川 律也 岩手大学, 理工学部, 助教 (00952350) ; 吉岡 瑞樹 九州大学, 先端素粒子物理研究センター, 准教授 (20401317) ; 猪野 隆 大学共同利用機関法人高エネルギー加速器研究機構, 物質構造科学研究所, 講師 (10301722) ; 北口 雅暁 名古屋大学, 素粒子宇宙起源研究所, 准教授 (90397571)
• 研究期間 (年度): 2025-04-01 – 2028-03-31

学術的意義、期待される成果

中性子の寿命は最も基本的な物理量の一つであり、測定方法によってそのデータに乖離が残る点は基礎物理学の大きな問題である。中性子ビーム中の中性子数をモニターしながらベータ崩壊を測定する本研究の手法は、これまでのビーム法にはない特徴をもつ寿命測定であり、高い意義が認められる。本研究により背景事象の抑制が実現すれば、重要なデータを獲得できると期待される。