| 研究課題/領域番号 |
26248004
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| 研究機関 | 東京工業大学 |
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研究代表者 |
大内 幸雄 東京工業大学, 理工学研究科, 教授 (60194081)
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| 研究分担者 |
西 直哉 京都大学, 工学(系)研究科(研究院), 准教授 (10372567)
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| 研究期間 (年度) |
2014-04-01 – 2018-03-31
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| キーワード | 表面・界面物性 / イオン液体 |
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| 研究実績の概要 |
イオン液体は1992年[emim]BF4の合成以来、特異な熱力学物性や電気化学特性、多様な構造形成性により高い感心を集め、幅広い分野で研究が続けられている。特にここ数年、環境問題やバイオ・エネルギープロセスに関連して、イオン液体/分子液体界面における局所高電界環境下での構造ダイナミクス、ならびに物質輸送の学理構築が喫緊の課題として位置づけられている。本研究は、古典的な界面電気化学が、とりわけ無溶媒電解質液体であるイオン液体に暗黙の内に適用される誤った現状に鑑み、これを物理化学の基礎的問題として再構築し、当該分野の誤謬の解決を図る。
我々が界面計測において多用する赤外－可視和周波発生振動分光法(IV-SFG法)は表面・界面選択性の高い計測法であり、界面分子配向の情報などを与える優れたツールであるが、界面垂直方向の弁別性に欠けるという本質的な問題点を抱えている。そこで、本年度はＸ線反射率測定に併せて分光エリプソメトリーをイオン液体/分子液体界面計測に適用し、IV-SFG測定と同一試料・同一条件でのin-situ測定を経て、界面層構造検出に取り組んだ。分光エリプソメトリーの入射角・出射角制御に改良を加え、入射角度固定タイプに比較して解析精度の格段の向上を目指したところ、有意の知見を得た。また、イオン液体/分子液体界面の電位制御方式には「イオン分配制御法」を試み、IV-SFGスペクトルの取得を目指したところ、界面構造の電位依存性と思しきスペクトル変化を得るに至った。
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| 現在までの達成度 (区分) |
現在までの達成度 (区分)
2: おおむね順調に進展している
理由
本年度は本格的な研究を遂行する上での準備期間と位置付けており、その意味では分光エリプソメトリーの高精度化及び電位制御方式の一つとして提案したイオン分配制御法が期待通りに電位制御していることを確認できた点において評価できる進展であると言える。
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| 今後の研究の推進方策 |
電位制御方式の一つとして提案したイオン分配制御法を更に進展させ、関連データの集積と成果発表を進める。IV-SFG法と分光エリプソメトリーとの対比実験が軌道に乗れば研究は大きく進展すると期待される。
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