| 研究課題/領域番号 |
26286048
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| 研究種目 |
基盤研究(B)
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| 配分区分 | 一部基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
薄膜・表面界面物性
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| 研究機関 | 東京工業大学 |
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研究代表者 |
平山 博之 東京工業大学, 理学院, 教授 (60271582)
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| 研究分担者 |
齋藤 晋 東京工業大学, 大学院理工学研究科, 教授 (00262254)
中辻 寛 東京工業大学, 大学院総合理工学研究科, 准教授 (80311629)
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| 研究期間 (年度) |
2014-04-01 – 2017-03-31
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| キーワード | シリセン / ゲルマネン / グラフェン / ヘキサゴナル窒化ホウ素 / 銀 / 走査トンネル顕微鏡 |
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| 研究成果の概要 |
シリセンやゲルマネンなどのIV族単原子層物質は、基板へのエピタキシャル成長によってのみ形成可能である。しかしシリセン成長基板として使われるAg(111)表面ではシリコン原子と銀原子の交換を伴う複雑な過程により成長が進行すること、および銀基板との強い電子相互作用のため、成長したシリセンのDirac電子状態が破壊されてしまうことが明らかになった。こうした問題を解決するためには、電子相互作用の小さな成長基板を探索することが重要である。これに関して、グラフェンを基板に用いた場合の検証、およびシリコン基板上に直接hBNを形成してこれを基板に用いる可能性の検討を行った。
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| 自由記述の分野 |
表面界面物性
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