FPGA搭載回路のフィールド高信頼化に関する研究

2017 年度 研究成果報告書

• 研究課題/領域番号: 26330067
• 研究種目: 基盤研究(C)
• 配分区分: 基金
• 応募区分: 一般
• 研究分野: 計算機システム
• 研究機関: 大分大学
• 研究代表者: 大竹 哲史 大分大学, 理工学部, 准教授 (20314528)
• 研究協力者: 佐藤 秀一 ; 森保 孝憲 ; 本田 太郎 ; 小野 廉二 ; 鹿野 礁 ; 佐脇 光亮 ; 上田 大樹 ; 嶋津 大地 ; 南薗 隼人 ; 渡邊 恭之介
• 研究期間 (年度): 2014-04-01 – 2018-03-31
• キーワード: FPGA / フィールドテスト / 特定用途依存テスト / 遅延故障 / 故障診断 / BIST / 対故障設計 / 劣化検知

研究成果の概要

近年の集積度の向上により，集積回路を少量生産するとコストが高くなる傾向にあり，特定用途向けの集積回路を少量生産する代わりに，ユーザが自由に回路を構成できるフィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ（ＦＰＧＡ）を利用することによるコスト削減が進むと考えられている．本研究では，高い信頼性が必要な用途へのＦＰＧＡの利用のための，ＦＰＧＡの高信頼化に関する研究を行い，使用環境(フィールド)で検査を行うための技術を開発した．

自由記述の分野

計算機科学