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アナログ回路を混載したシステムＬＳＩのアナログ回路部分の故障検出をＬＳＩの製造工程からシステムの動作時までいつでも行うことの出来る機構の開発を主たる目的として研究を行った。本研究ではアナログ混載システムＬＳＩで多用される各種回路から基準電源回路とΔΣ変調器をモチーフとし、回路のインパルス応答に基づいた回路素子の開放/短絡などの致命的故障（カタストロフィック故障）を検出できる故障検出システムの開発を行い、回路シミュレーションと実チップによる試作/測定の結果、回路素子の開放/短絡については８６～９５％の検出が出来ることを確認した。また、回路に付加回路を追加してカオス発振回路を構成することで、回路素子の定数故障（パラメトリック故障）を検出できる見込みが立った。また、カオス発振回路をクロック信号信号源とすることで、ΔΣ変調器のパラメータ故障の検出が可能となった。
平成28年度には、ΔΣ変調器をカオス発振器により生成した疑似乱数であるクロック信号により駆動することでパラメトリック故障の検出が可能となる回路構成に関しての実験を行った。この回路構成は２次ΔΣ変調器の2つの積分器の出力を比較し、その値に差がある場合にはどちらかの回路に故障が存在することを利用したもでの有り、対応出来る回路には制限がある。しかしながら、従来と比べて極めて簡単な回路でパラメトリック故障の検出が行えた。
以上の研究結果については、国際学会での発表が2件ある。
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