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従来，リニアックの電子ビームの高精度プロファイルモニタとして，可視遷移放射が利用されてきたが，ビームのバンチ長が短い場合，可視遷移放射がコヒーレントになり，プロファイルの測定に利用できないことが判明した．そこで，本研究では，より波長の短いパラメトリックX線等の結晶から発生する放射現象の利用を提案した．
本研究では下記の成果が得られた．(i)フレネルゾーンプレートを用いたビームプロファイルモニタの開発，(ii)回折遷移放射と回折制動放射の寄与の定量的評価，(iii)ダイヤモンド結晶からのパラメトリックX線の角度分布測定，(iv)回折遷移放射を利用した国際リニアコライダー用ビーム診断技術の提案．
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