研究課題
基盤研究(C)
粗大粒ではＸ線回折像が斑点状になることから，2次元検出器を利用した応力測定法が必要である．本研究においては，回折斑点から応力値を決定する方法として，線形計画法の一種であるシンプレックス法を利用した直接法を提案した．また，回折斑点からの回折角度の誤差は，結晶粒の回折中心とＸ線照射中心が一致しないことに起因することを解明した．それらを解決することを目指して．2次元検出器を利用したπ法，二重露光法を提案した．さらに，Ｘ線ビームの発散角も回折各測定の誤差要因であることも明らかにした．
材料力学
