水平力顕微鏡による単一原子の同位体の識別法の開発

2015 年度 研究成果報告書

• 研究課題/領域番号: 26600015
• 研究種目: 挑戦的萌芽研究
• 配分区分: 基金
• 研究分野: ナノ構造物理
• 研究機関: 東京大学 (2015); 大阪大学 (2014)
• 研究代表者: 杉本 宜昭 東京大学, 新領域創成科学研究科, 准教授 (00432518)
• 研究期間 (年度): 2014-04-01 – 2016-03-31
• キーワード: 走査型プローブ顕微鏡

研究成果の概要

原子間力顕微鏡（AFM）を用いると探針先端の原子と表面の個々の原子との間に働く相互作用力を測定して、表面の原子や分子を観察できる。さらに、2原子間に働く相互作用力や散逸エネルギーを測定することも可能である。AFMを用いて、化学的性質が似通っているシリコン原子とゲルマニウム原子の元素同定に成功した。これによって、高感度なレーザー干渉計により精密な力測定ができることが示された。

自由記述の分野

走査型プローブ顕微鏡