|
高信頼性を有する金属ナノワイヤ透明導電膜を開発するために、その電気的破壊挙動を解明した。具体的にはまず金属ナノワイヤメッシュを取り扱い、数値解析により通電条件下の温度分布を調査し、熱的・電気的境界条件が電気的破壊挙動に与える影響を解明した。次に作製した金属微細ワイヤ単体と異なるワイヤメッシュを用いて、通電実験を行い、その電気的破壊挙動ならびに雰囲気環境がもたらす影響を明らかにした。これより金属ナノワイヤ透明導電膜における信頼性の向上指針を見出して、太陽電池をはじめ次世代光電デバイスの発展に資する成果を得た。
|
