単一磁束量子(SFQ)回路で用いられる電流比較器の動作解析を行った。電流比較器にはQuasi-One-junction SQUID (QOS)を用いて、雑音を含んだ数値計算による解析を行った。数値計算の結果からQOS比較器内のインダクタンスの値がQOS比較器の動作点、動作モードに大きく影響を与えていることを明らかにした。 また、実際にAIST-STP2によるNb多層プロセスを用いてQOS比較器の作製を行った。更にチップ内に超伝導シールドを用いた雑音耐性の強いQOS比較器の作製も行った。これらの結果はSFQ回路の実用化に向けて大きく前進したことを示している。
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