| 研究課題/領域番号 |
60460123
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| 研究種目 |
一般研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 研究分野 |
電子材料工学
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| 研究機関 | 早稲田大学 |
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研究代表者 |
大木 義路 早稲田大, 理工学部, 教授 (70103611)
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| 研究分担者 |
長沢 可也 早稲田大学, 理工学部, 助手 (20180474)
浜 義昌 早稲田大学, 理工学研究所, 教授 (40063680)
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| 研究期間 (年度) |
1985 – 1986
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| キーワード | 光ファイバ / 純粋石英ガラス / 光学吸収帯 / 欠陥 / ノン・ストイキオメトリ |
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| 研究概要 |
純粋石英ガラスに放射線が照射されると、多くの光吸収帯が生成する。このうちで、紫外から近赤外領域における7つの吸収帯の原因が不明であった。申請者らのグループは、主として光吸収およびESR等の実験手法を用い、不純物(Cl,OH基)の含有量、および、酸素のケイ素に対する化学量比などを考慮することで、4つの吸収帯の原因を明らかにした。この過程において、良好な耐放射線性ファイバを得る為には、「不純物であるOH基を多量に含有すること」という従来言われてきた定説が、必ずしも絶対条件ではないことを明らかにした。さらに、同様の不純物を含んでいるにもかかわらず、欠陥の生成が全く異なるという、一見不可解な現象の原因が、実はガラス中のケイ素と酸素の化学量比のppmオーダーのアンバランスによって起こることをはじめて明らかにした。また、ファイバコアとして使用されるシリカガラスは、従来考えられていたより、はるかに規則正しい構造をしており、わずかな構造の乱れが欠陥につながることを示した。
これらの研究より、損失の増大が小さく、しかも、情報量の多いシングルモードファイバの為の1、3〜1、55μmという長波長領域で使用可能な耐放射線光ファイバの実現に対する貴重な知見を得たのみならず、放射線や線引き時に誘起される光吸収損失を低減するための、母材製造時の酸素分圧に関する重要な知見や、放射線誘起損失の具体的な低減法の1つとしての水素処理法など、工学的にも意義深い成果も多く得た。
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