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Mueller Matrix解析法を円二色性(CD)・旋光分散(ORD)同時測定用偏光変調分光計を設計し、日本分光と共同で製作した。分光計の制御、データ収集用フロントエンド・コンピュータとしてNEC PC-9801を、データ処理用コンピュータ・システムとしてIBM PC-XTを用いてハード及びソフトウェアーの開発を試みた。試作装置によって、400nmから1000nmまでのCD・ORDを高精度、高感度で測定できることが明らかとなった。しかし、400nm以下200nmまでのCD・ORD同時測定を行うには、光学系の全ての部品に非常にひずみの少ない光学素子を採用しなければならないとの結論を得た。また、信号検出用のロックインアンプに高い高調波除去率を持たせるには、高性能高精度の電子部品を全面的に採用する必要がある事が明らかとなった。
試作装置は、直線偏光複屈折(LB)、直線二色性(LD)同時測定装置としても使用できること、更にCD及びLDスペクトルが観測されない波長領域に於いては、ORD・LB同時測定装置としても使用でき、これによつてコレステリック液晶構造の解明が可能であることが明らかとなった。
試作装置の制御、データ収集・処理用ソフトウェアーの開発を、アセンブラー、BASICなどの言語を用いて行った。しかし、時間と労力の割りには満足すべきものが作れなかった。これは、IBM PC-XT用に市販されているData Translation社のデータ収集用I/Oボード、これをサーポートするMacMillan Software社の強力なパッケージソフトウェアーASYSTを用いて行うべきであったとの結論に達し、現在この線にそってソフトウェアーの開発を進めている。
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