| 研究概要 |
本年度の第一目的は昨年度に納入された磁気スペクトログラフの性能確認であった. ^<241>Amα線及び加速ビームと半導体位置検出器を用い, 収束性が設計通りかを調べたところ, 所期の性能が出ていなかった. 色々と検討した結果, 磁極の境界が設計よりも少しはみ出している事が判明した. この原因を見出し, 修正するのに多くの時間を要したが, 現在では収束性は設計通りの性能である事を確認した.
第二の作業は, 一次ビームの偏極度を測定するための散乱槽を設計し, 実験のためのビームコースを完成する事であった. このための散乱槽は, 二次粒子強度の上下左右の非対称性を半導体検出器を用いて, 同時に測定できる様に設計した. 偏極度を断続的に, 又は連続的に測定できる様に標的位置はマイクロコンピュータによる遠隔操作を念頭において造った. この散乱槽の納入に伴い, ビームコースの最終配置を完成させた.
第三の作業は, 一回散乱用散乱槽の遠隔操作のためのプログラム開発であった. 光ファイバーを用いた通信回線で二台のマイクロコンピュータをつなぎ, どちらの端末からもOSコマンドを入力できる様なプログラムを試作した. これにより, 現場でも又遠くからでも同じ様に標的位置その他を操作できる様になった.
現在は, これ等の装置を用いて実験を行うための, 焦点面検出器の設計と, 一回散乱実験の準備を行っている.
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