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1988 年度 実績報告書

サブミクロンの拡散帯から拡散係数を決定するための超精度マイクロセクショニング装置

研究課題

研究課題/領域番号 62850118
研究機関東北大学

研究代表者

藤川 辰一郎  東北大学, 工学部, 助手 (50005344)

研究分担者 中嶋 英雄  東北大学, 金属材料研究所, 助教授 (30134042)
板垣 喜一  技研エンジニアリングサービス, 理科学製造機器, 技師
平野 賢一  東北大学, 工学部, 教授 (10005209)
キーワード拡散 / スパッタ / イオンビーム / 拡散係数 / イオン源
研究概要

イオンビーム・スパッタ技術を利用し、各種の固体におけるサブミクロンの深さの拡散帯から小さな拡散係数を測定するための超精度マイクロセクショニング装置の調整を昭和62年度に引続き行なった。デュオプラズマトロン型イオン源およびプラズマトロン電源の安定性を調べた。高性能の試料保持装置および回収用フィルム巻き取り装置を製作し、各種物質のスパッタ速度の加速電圧依存性を調べた。本装置を用いて、ω中の不純物拡散係数を測定した。

  • 研究成果

    (5件)

すべて その他

すべて 文献書誌 (5件)

  • [文献書誌] S.Fujikawa: Application of Ion Beams in Materials Science,ed.by T.Sebe and Y.Yamamoto Hosei University press. 265-270 (1988)

  • [文献書誌] S.Fujikawa: Materials Science Forum. (1989)

  • [文献書誌] S.Fujikawa: Materials Science Forum. (1989)

  • [文献書誌] S.Fujikawa: Res.Rep.Lab.Nucl.Sci.Tohoku Uni.21. 226-235 (1988)

  • [文献書誌] S.Fujikawa: Proc.on the 7th symposium on Ion Beam Technology,Hosei University. (1989)

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公開日: 1990-12-19   更新日: 2016-04-21  

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