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電通大の電子ビームイオントラップTokyo-EBITは、多価重イオンの生成・観測を可能とする有数の実験装置である。このTokyo-EBITに宇宙観測用先端的X線検出器の一つであるSi/CdTe半導体コンプトンカメラを設置し、多価重イオンから放出されるX線の直線偏光度測定を行った。
既に初年度において偏光度測定自体は実施可能となり、いくつかの結果も得ていたが、偏光度の絶対値および系統的不確かさの評価が課題であった。そのため、検出器の応答に関する詳細なシミュレーションを、実験で得られたエネルギースペクトルや散乱角度分布を十分な精度で再現するまで繰り返し行った。その評価のために、偏光度がほぼ100%である水素様および裸Krイオンへの放射性再結合X線の偏光度測定を行った。その結果、±0.02の精度で直線偏光度を決定することが可能であるとの結論に至った。この成果は新規装置に関する学術雑誌Rev.Sci.Instrum.に投稿した（2021年3月下旬投稿、5月上旬に"beautiful paper"とのコメントとともにminor revisionの査読結果）。
検出器の評価が済んだことにより、He様からF様Biイオンの放射性再結合X線の偏光度の決定を行った。その結果、理論計算と差異があることが分かった。これは電子相関の効果によるもので、実験を再現するためにはより詳細な理論計算が必要であることを示唆している。この成果に関しては2020年度中に投稿までは至らなかったが2021年5月中にPhys.Rev.誌に投稿予定である。
また、Be様Biに関して二電子性再結合X線の偏光度測定および解析を行ったところ、本来無偏光であるはずのX線が有意に偏光しているという結果を得た。これは原子物理の枠内では説明不可能であるが、実験および解析に問題は見当たらず、原子核スピンなどの影響などを詳細に考慮する必要がある。
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