先進MEMSデバイスの三次元複雑構造と破壊の超高分解能X線CTによる可視化

2004 Fiscal Year Annual Research Report

• Project/Area Number: 04F04370
• Research Institution: Toyohashi University of Technology
• Principal Investigator: 戸田 裕之 豊橋技術科学大学, 工学部, 助教授
• Co-Investigator(Kenkyū-buntansha): QIAN Lihe 豊橋技術科学大学, 工学部, 外国人特別研究員
• Keywords: シンクロトロン放射光 / トモグラフィー / その場観察 / 損傷 / 破壊

Research Abstract

この年度は、11月30日〜年度末の約4ヶ月のみであり、実験準備、計算解析の環境作り、計算解析のアルゴリズム検討などを実行した。SPring-8での利用許可をえるため、年度内に数回の出張を行い状況を把握し、実験準備を行った。
下記に、具体的な実施事項を列記する。
・微小材料のその場観察用治具(SPring-8専用)の設計と試作
・試験対象材料/構造の選定と、その予備的評価
・SPring-8への下見と実験環境整備
・計算解析の環境整備
・計算解析のアルゴリズムなどの検討
・計算解析の予備実施と問題点の抽出
特に、材料破壊挙動の可視化については、過去のデータのヴォリュームレンダリングを行い、亀裂および損傷の可視化について検討した。この結果については、社団法人軽金属学会春期大会にて発表予定である。