2006 Fiscal Year Annual Research Report
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04F04727
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| Research Institution | The University of Tokyo |
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Principal Investigator |
土井 正男 東京大学, 大学院工学系研究科, 教授
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| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
HEAD David 東京大学, 大学院工学系研究科, 外国人特別研究員
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| Keywords | 複雑流体 / 高分子 / コロイド微粒子 / ゲル化 / 数値シミュレーション |
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| Research Abstract |
高分子膜の蒸発における弾性不安定性の研究:
高分子を含む溶液が蒸発してできる高分子フィルムの形状はインクジェットプリントなどの応用に関連して重要である。濃度の高い高分子溶液が乾燥するときに、表面に乾燥膜ができ、蒸発の進行に伴い、液膜内部の圧力が減少し、膜が弾性不安定を起こすことが知られている。Head博士は、殻理論をもちい、この不安定性の理論解析を行った。とくに、弾性不安定の結果生じる種々の形状が現われる条件を明らかにした。この結果を、論文にまとめ、Phys.Rev.Eに発表した。
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