1995 Fiscal Year Annual Research Report
| Project/Area Number |
05237105
|
|---|
| Research Institution | Kyoto University |
|---|
Principal Investigator |
志田 忠正 京都大学, 大学院・理学研究科, 教授 (60025484)
|
|---|
| Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
野坂 芳雄 長岡技術科学大学, 工学部, 助教授 (30134969)
並木 章 豊橋技術科学大学, 工学部, 助教授 (40126941)
鈴木 俊法 分子科学研究所, 電子構造系, 助教授 (10192618)
城丸 春夫 東京都立大学, 理学部, 助教授 (70196632)
百瀬 孝昌 京都大学, 大学院・理学研究科, 助教授 (10200354)
|
|---|
| Keywords | 凝縮系 / フリーラジカル / 高分解能分光 / 光解離 / 状態選別反応 / イオンクラスター / 界面 / 表面 |
|---|
| Research Abstract |
高分解能分子分光のための差周波レーザー光源系を製作し、900cm^<-1>から10000cm^<-1>までの領域の分光測定システムを組み立てた。このレーザーを用いて固体パラ水素中のメタンおよびその重水素置換体の高分解能赤外分光測定を行い、縮重変角および縮重伸縮振動の回転構造を観測した。また、CH_3I,CD_3I,C_2H_5Iの紫外光分解により生成するメチルラジカル、エチルラジカルなどの振動回転線の観測を行った。さらに、固体炭素をレーザー蒸発させながらパラ水素ガスに合流させ、これを固化させた試料では既知のC_3,C_5,C_9の他に新しい二、三のクラスターが観測された(志田・百瀬)。
二次元イオンイメージング法の装置を用いてアセチレンのA^^〜(^1A_U)状態の前期解離およびフラグメント種の方位整列状態に関する実験とその解析を行った(鈴木)。
炭素クラスターの負イオンを固体表面に衝突させたときの電子脱離過程のダイナミックスを研究するため電子エネルギー分析器を製作し、これを用いて衝突誘起電子脱離の速度を求めた(城丸)。
シリコン(100)面の表面をセシウムで修飾した系について塩素分子の付着確率と散乱塩素分子の飛行時間質量分析スペクトルの測定を行った。その結果、入射塩素分子の感ずる表面ポテンシャルについて新しい知見が得られた(並木)。
光散乱が無視できる程度の粒子径の半導体微粒子を光励起したときの粒子表面での酸化・還元能について光化学的手法により研究した。その結果、粒子内で光誘起電荷分離を起こさせるために必要な粒子サイズについての知見を得ることができた。(野坂)。
|
-
[Publications] T.Momose: "Infrared spectroscopic studies on photolysis of methyl iodide and its clusters in solid parahydrogen" J.Chem.Phys.103(4). 1400-1405 (1995)
-
[Publications] T.Momose: "Tunable narrow linewidth cw mid-infrared light generation by difference frequency mixing" J.Opt.Soc.Am.,B. (in press).
-
[Publications] N.Hashimoto: "Energy and state dependence in the quenching and predissociation of C_2H_2" J.Chem.Phys.(in press).
-
[Publications] M.Ohara: "Resonance-enhanced multiphoton electron detachment spectrum of C_5" J.Chem.Phys.103(23). 10393-10394 (1995)
-
[Publications] H.Namiki: "Direct inelastic scattering of chlorine molecules from cesiated Si(100)" J.Chem.Phys.102(24). 9689-9693 (1995)
-
[Publications] Y.Nakaoka: "Electron spin resonance study of radicals produced on irradiated CdS powder" J.Phys.Chem.99(24). 9893-9897 (1995)
