表面XAFSとSTMを併用した活性表面における分子吸着種の挙動に関する研究

1993 Fiscal Year Annual Research Report

• Project/Area Number: 05403010
• Research Institution: The University of Tokyo
• Principal Investigator: 太田 俊明 東京大学, 大学院・理学系研究科, 教授 (80011675)
• Co-Investigator(Kenkyū-buntansha): 北島 義典 高エネルギー物理学研究所, 放射光実験施設, 助手 (00204892) ; 難波 秀利 東京大学, 理学部, 助手 (40118766) ; 横山 利彦 東京大学, 大学院・理学系研究科, 助手 (20200917) ; 田島 裕之 東京大学, 大学院・理学系研究科, 講師 (60207032)
• Keywords: 走査型トンネル顕微鏡(STM) / 表面X線吸収分光(表面XAFS) / 分子吸着構造 / 表面再配列

Research Abstract

オミクロン社製超高真空対応STM測定装置が納入され現在は超高真空槽に取り付け立ち上げ調整を行っている段階である。その他、STM装置への試料単結晶移送機構及び吸着用ガス導入機構等も完成し、平成6年3月以降本格的な実験に入る予定である。
現在のところSTM装置を併用せずに表面XAFSの実験を行いいくつかの成果を得てきた。本年度は、Cu(111),Cu(100)表面上に硫黄を含んだ分子CS_2,COS,SO_2,ケオフェン,ケオフェノール等を吸着させ、その吸着挙動の温度変化及び定量的な吸着構造の解析を行った。このうち、CS_2/Cu(111)系についてはすでに論文を投稿し、現在印刷中である。さらに原子の吸着系についてはS/Ni(100),S/Ni(110)系についてより詳細な構造解析に加え、表面振動の異方性を検討し、表面XAFS法として新しい試みを行った。原子吸着系においてSTMとの対応を見るには、表面再配列をおこす系が興味深いが、これについては(5√<3>×2)S/Ni(111)系についてX線定在波の実験を表面XAFSに加えて行い現在解析・検討中である。

Research Products

• [Publications] 八木伸也 他: "Structural and electronic properties of molecularly adsorbed CS_2 on Cu(III) studied by X-ray absorption and photoelectron spectroscopies" Surface Science. (印刷中).
• [Publications] 横山利彦 他: "Vibrational and anharmonic properties of the surface S-Ni bonds in C(2×2)S/Ni(100) and C(2×2)S/Ni(110) from the SEXAFS point of view" Surface Science. (印刷中).