2007 Fiscal Year Annual Research Report
Project/Area Number |
06F06720
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Research Institution | Tokyo Institute of Technology |
Principal Investigator |
山口 雅浩 Tokyo Institute of Technology, 大学院・理工学研究科, 准教授
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Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
MUTANEN Jarkko 東京工業大学, 大学院・理工学研究科, 外国人特別研究員
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Keywords | 分光画像 / 蛍光 / マルチスペクトル / 色再現 |
Research Abstract |
今年度は、昨年度開発した蛍光サンプルの分光特性計測装置の精度を検証すると共に、蛍光サンプルの分光特性のモデルを考案することで、計測の簡易化方法を検討した。 昨年度、キセノン光源に多数枚のハイパスフィルタを挿入することで、照明光を変調しながら、蛍光サンプルの分光計測を行う計測装置の開発を行った。今年度は、この装置を用いて、30種類の蛍光サンプルの分光特性の計測を行った。そして、計測結果の精度を明らかにするために、InFotonicsセンター(Joensuu,Finland)において、蛍光サンプルの分光特性を正確に計測することが可能な装置を用いて、同じ30種類の蛍光サンプルに対する参照データを取得し、計測データとの比較を行った。その結果、開発した装置により、蛍光サンプルの分光特性を精度よく計測できることを確認した。 さらに、計測データに基づき、蛍光サンプルの分光特性を表すモデルを構築することで、分光特性の計測を簡易化する方法について検討した。その結果、適切に波長を選択した8枚程度のハイパスフィルタにより照明光を変調しながら分光計測を行うことで、蛍光成分と非蛍光成分とを分離して取得することが可能であることを示した。 これにより、従来手法と比較して、簡易なシステムで少ない計測時間により、蛍光サンプルの分光特性を蛍光成分と非蛍光成分とに分離して計測するための基本技術が確立された。この方法は、マルチスペクトルカメラと組み合わせることにより、画像として蛍光サンプルの分光特性を計測する方法として利用することが可能である。
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Research Products
(4 results)
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[Presentation] Optical Inspection of Red Wine2007
Author(s)
K.-E. Peiponen, J. Mutanen, J. Raty, I. Niskanen, E. Gornov, P. Lehtonen, T. Jaaskelanen
Organizer
The Seventh Finnish-Japanese Joint Symposium on Optics in Engineering-OIE'07
Place of Presentation
Tampere,Finland
Year and Date
20070808-10
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[Presentation] Spectral Color in Industrial Applications2007
Author(s)
M. Hauta-Kasari, D. Wisniewski, J. Kinnunen, J. Mutanen, J. Hiltunen, J. Parkkinen, T. Jaaskelainen
Organizer
The Seventh Finnish-Japanese Joint Symposium on Optics in Engineering-OIE'07
Place of Presentation
Tampere,Finland
Year and Date
20070808-10