2008 Fiscal Year Annual Research Report
収差補正STEM法を用いた材料界面の原子構造・電子状態定量解析手法の確立
Project/Area Number |
07F07768
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Research Institution | The University of Tokyo |
Principal Investigator |
幾原 雄一 The University of Tokyo, 大学院・工学系研究科, 教授
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Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
FINDLAY Scott David 東京大学, 大学院・工学系研究科, 外国人特別研究員
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Keywords | HAADF STEM / 粒界構造 / EELS / ナノ界面 / ドーパント偏析 / 金触媒 |
Research Abstract |
本年度は、STEM像シミュレーション法を実際の材料界面・表面解析に適応し、界面における原子構造、ドーパント構造、3D構造の解析を試みた。以下にその結果を列挙する。 (1)STEM-profile imaging法を理論検討し、TiO_2表面の再構成構造を詳細に決定することができることがわかった。これは実験的にもHAADF STEM法を用いて実証された。TiO_2表面は代表的な酸化物表面として長年研究されてきたが、その表面緩和構造を原子スケールで詳細に決定することは極めて難しかった。つまり、HAADF STEM法は今後の表面構造解析において極めて有力なツールと成り得る。 (2)金触媒界面をHAADF STEMで観察するための最適条件を理論的に検討した。その結果、TiO_2表面上に担持しか金原子をHAADF STEMで可視化するためには、ビーム開き角を大きくすることが最も効果的であることがわかった。またこのような知見をもとに実験を行った結果、TiO_2表面の金単原子を画像化することに成功した。 以上のように、HAADF STEMの理論シミュレーションと実験を併用することにより、これまで解析が困難とされた局所構造においても、HAADF STEMが極めて有力なツールになることがわかった。また、STEM-EELSに関しても、デローカリゼーション、コントラスト反転等、実験的に問題となる現象に関する理論解析を行っている。
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Research Products
(30 results)
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[Journal Article] Simulating atomic resolution STEM images of non-periodic samples2008
Author(s)
S. D. Findlay, A. J. D'Alfonso, L. J. Allen, M. P. Oxley, P. D. Nellist, E. C. Cosgriff, G. Behan, A. Kirkland, N. Shibata, T. Mizoguchi, Y. Ikuhara
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Journal Title
Micro. Microanal. 14[S2]
Pages: 928-929
Peer Reviewed
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[Presentation] STEM imaging : theory and experiment2008
Author(s)
S. Findlay, L. Allen, A. D'Alfonso, M. Bosman, V. Keast, J. LeBeau, S. Stemmer
Organizer
The Sixty-fourth Annual Meeting of the Japanese Society of Microscopy (JSM)
Place of Presentation
京都
Year and Date
20080521-20080523
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[Presentation] Simulating atomic resolution STEM images of non-periodic samples2008
Author(s)
S. D. Findlay, A. J. D'Alfonso, L. J. Allen, M. P. Oxley, P. D. Nellist, E. C. Cosgriff, G. Behan, A. Kirkland, N. Shibata, T. Mizoguchi, Y. Ikuhara
Organizer
Microscopy and Microanalysis
Place of Presentation
Albuquerque, New Mexico, USA
Year and Date
2008-08-05
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