2009 Fiscal Year Annual Research Report
イネ適応性に関わる出穂性複合遺伝子座の遺伝学的解明
| Project/Area Number |
08J01545
|
|---|
| Research Institution | Hokkaido University |
|---|
Principal Investigator |
上床 修弘 Hokkaido University, 大学院・農学研究院, 特別研究員(PD)
|
|---|
| Keywords | イネ / 量的形質 / 開花期・出穂期 / エピスタシス / 自然変異 / FT-like遺伝子 / 地域適応 / QTL分化 |
|---|
| Research Abstract |
栽培および野生イネの複数系統に分布するse-pat複合遺伝子座の遺伝的基盤を解明し、その適応的意義を理解するため、当該年度は以下の項目について研究を実施した。
1.se-pat遺伝子近傍に見出されたアフリカイネ由来感光性遺伝子の遺伝的基盤の解明
アフリカ栽培イネ由来の感光性遺伝子Se-gla_<(t)>は、その表現型および優性の度合いがアジアイネで見出されたse-pat遺伝子と異なるにもかかわらず、類似の領域に座乗した。微細マッピングにより、Se-gla_<(t)>が複数の連鎖したQTLs (qDF6.6および4DF6.7)から成ることを明らかにした。さらに、se-pat遺伝子において見出されたQTLsと同様に、qDF6.6(13.3kb)およびqDF6.7(6.7kb)領域には、イネのフロリゲン遺伝子と示唆されるRFT1およびHd3aがそれぞれ座位した。これらの結果は、種内だけでなく種間においても、RFT1およびHd3aを含むQTLの分化がイネ開花期の多様化に貢献することを示した。
2.既知遺伝子とse-pat遺伝子の遺伝学的ネットワークの構築
se-patは感光性遺伝子Selと共存するとき強感光性を示す。古典的に同定されたイネ早生性遺伝子Ef1およびその変更因子m-Ef1によって、Se1Se1se-patse-patによる強感光性が消去されるかどうかを調査した。これら4遺伝子座に関する分離集団を用いた遺伝解析を行ったところ、Ef1およびm-Ef1のエピスタシスによりSe1Se1se-patse-patによる強感光性が消去された。イネ開花期遺伝子の遺伝学的関係の構築は、分子的知見と統合してイネ出穂遺伝機構を理解する上で重要な意味を持つ。
|
Research Products
(4 results)
