1999 Fiscal Year Annual Research Report
多成分ガラス半導体における硬さのパーコレーション・中距離構造とフラクトンの研究
Project/Area Number |
09440117
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Research Institution | Osaka University |
Principal Investigator |
邑瀬 和生 大阪大学, 大学院・理学研究科, 教授 (50028164)
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Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
松田 理 北海道大学, 大学院・工学研究科, 助教授 (30239024)
井上 恒一 大阪大学, 産業科学研究所, 助教授 (50159977)
王 勇 大阪大学, 大学院・理学研究科, 助手 (30294143)
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Keywords | 硬さのパーコレーション / カルコゲナイド / ラマン散乱 / 低振動数 / フラジリティ / フラクトン / フォトルミネッセンス / 局在フォノン |
Research Abstract |
本年度は、カルコゲナイドガラスの構造や力学特性等の諸性質に対し、中距離構造の形成・変化、硬さのパーコレーション、フラジリティ、フラクトンといったミクロ・メゾスコピックな観点から研究を進めている。 溶融状態からのクエンチにより作製したカルコゲナイドガラスに対し、ラマン散乱測定を行った。低波数ラマンスペクトル(3-100cm^<-1>)は、格子緩和モードに関連する準弾性散乱と振動モードに関連するボソンピーク(BP)から形成され、以下のように新たな理解を得た。 ・フラクトン 数10cm^<-1>以下〜100cm^<-1>程度の低周波数領域の振動状態密度は、周波数の巾乗の関数形を持つ。これらは巾指数の違いにより、低周波数側からフォノン、ベンディングフラクトン、ストレッチングフラクトンに分類される。スペクトル中にベンディングフラクトン領域が観測されるか否かを分ける臨界組成は、ガラスネットワークのリジディティーパーコレーションが起こるとされる組成にほぼ一致する。 ・フラジリティと 低波数ラマンスペクトルに見られる緩和モードとボソンピークとの関係から、ガラスのフラジリティに関係する量を見出した。フラジリティは、ガラスの力学特性ー硬さのパーコレーション転移付近に急激な変化を示すことを見られた。
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Research Products
(7 results)
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[Publications] J.Yanagisawa: "Low-energy focused Si ion beam deposition under oxygen atmosphere"Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B. 148. 42-46 (1999)
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[Publications] Y.Wang: "Effect of thermal annealing on dynamics of photoluminescence in a-GeSe_2 films"Journal of Non-Crystalline Solids. (in press).
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[Publications] Y.Wang: "Raman-spectroscopy studies on rigidity percolation and fragility in Ge-(S,Se) glasses"Jouranl of Non-Crystalline Solids. (in press).
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[Publications] T.Nakaoka: "Relaxation process of band edge exciton in layered crystalline GeSe_2"Jouranl of Luminescence. (in press).
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[Publications] Y.Wang: "Raman scattering investigation of the structure of amorphous silicon in a-Si/SiO_2 superlattice films"Journal de Physique IV. (in press).
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[Publications] O.Matsuda: "Temperature dependence of photoluminscence intensity and decay in GeSe_2 glass"Journal of Non-Crystalline Solids. (in press).
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[Publications] K.Murase: "Insulating and Semiconductuing Glasses"World Scientific Press,Ltd,(Editor P.Boolchand) (in press).