1998 Fiscal Year Annual Research Report
二次元X線回析画像のデータ処理による精密構造解析とそのシステムの構築
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09559006
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Research Institution | Japan Advanced Institute of Science and Technology |
Principal Investigator |
佐々木 伸太郎 北陸先端科学技術大学院大学, 材料科学研究科, 教授 (10092553)
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Co-Investigator(Kenkyū-buntansha) |
佐々木 勝成 理学電機株式会社, システム設計部, 技術補(研究職)
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Keywords | X線回析 / 結晶構造解析 / 高分子材料 / イメージングプレート / 画像処理 |
Research Abstract |
円筒型イメージングプレート検出器を装備したX線回折装置により測定したX線散乱データから最大限の情報を引き出すための画像処理システムを構築し、高分子材料の結晶構造および高次構造の解析に適用した。解析システムはノートパソコンでも十分に動作できるものとした。これにより、画像データは光磁気ディスクなどに保存し、各自がそれぞれ身近かのパソコンで便利かつ自由にさらなる解析を行なうことができる。 高分子の繊維試料では、その一軸配向の方向が入射X線に対し適当な方向を向いていても、図形の特徴からその幾何学的な配置を割りだし全ての補正や処理を行なうことができる。これにより、従来からの子午線近傍での特異点問題を解消し、いわゆるブラインド領域なしでの測定を可能にした。 このシステムにより、多くの導電性高分子、ポリフェニレンスルフィドなどの耐熱性高分子、ポリ(乳酸)などの生分解性高分子、くし形高分子などの結晶構造を解析した。 さらに、従来は特別な装置と多くの労力を要していた、配向度や結晶化度の解析が極めて容易に行なえるようになった。特に、X線回折法で結晶化度を求めるには理想的な無配向試料を必要としていたが、適当に配向した試料についてもコンピューター上で散乱パターンを無配向なものに変換することで、配向試料についても評価を可能にした。 画像処理によって加工されたデータは自動的に整理され、Rietveld法による解析や散慢散乱の解析など、その他の解析のために用いることができるようになっている。
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Research Products
(6 results)
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[Publications] 佐々木伸太郎: "Application of Image-plate Detector to Analysis of Polymers" Repts Prog.Polym.Phys.Jpn.41. 251-258 (1998)
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[Publications] 佐々木伸太郎: "X-ray Analysis of Main-chain Type Poly(anthraguinone)s" Repts Prog.Polym.Phys.Jpn.41. 341-344 (1998)
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[Publications] 佐々木伸太郎: "Layered Structure in Comblike Copolyacrylates" Repts Prog.Polym.Phys.Jpn.41. 349-356 (1998)
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[Publications] 山本隆一: "Extensive Studies of Poly(alkylthiophene)s and Poly(alkylthiazole)s" J.Amer.Chem.Soc.120・9. 2047-2058 (1998)
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[Publications] 川本尚史: "Microstructural Characterization of Polypropene" Macromol.Chem.Phys.199. 261-1998 (1998)
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[Publications] 佐々木伸太郎: "X線回析によるあいまいな高分子構造の解析" 理学電機ジャーナル. 29・2. 22-29 (1998)