IVR低コントラスト改善のためのフィルタK吸収端からの最高管電圧までの解析

1997 Fiscal Year Annual Research Report

• Project/Area Number: 09670919
• Research Category: Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
• Research Institution: Kanazawa University
• Principal Investigator: 越田 吉郎 金沢大学, 医学部, 助教授 (90020023)
• Keywords: IVR / K吸収端 / 低コントラスト改善

Research Abstract

低コントラストの組織を描出するには、管電圧を低くすれば吸収係数が大きくなり、変化分を大きくすることができる。しかし、体厚が厚くなれば、このK吸収端から最高管電圧までのエネルギーが増加するので、低コントラスト描出の改善のためフィルターの材質と厚さの解析を行い、最適材質と厚さを追求した。
(1)既存のX線スペクトル測定装置により、IVR手技中におけるX線透視条件でのX線スペクトルの測定を行い、付加フィルタなしでのファントム厚変化よるX線線質の相違を解析したところ、ファントム自体がフィルタの役目をし、低エネルギー分の吸収が多くなっていることがわかった。ファントムの厚さを各種フィルタ材質の厚さに換算することを、シミュレーションで行っている途中である。
(2)X線の出力が常時一定に保たれているかを考慮しつつ管電圧の変化を検討した。X線出力アナライザーによる測定では、透視条件で長時間使用しなければ、出力はほぼ一定であった。
(3)付加フィルター装着により、K吸収端から最高管電圧までのX線スペクトル解析を行った。フィルタ材質のタングステン、ヨウ素、金によりX線スペクトルを測定したが、K吸収端を用いる場合、フィルタ厚の違いによって低エネルギー成分の減弱割合が非常に影響することが分かった。モンテカルロにより解析中である。
(4)低コントラスト分解能テストツールにより、低コントラスト領域の示現能とX線スペクトルの関連性を追求している途中である。
(5)他施設における現状を調査しているが、条件が種々あり、整合性の必要があることが分かった。